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标题: X射线在芯片检测领域的应用原理分析 [打印本页]

作者: xubin    时间: 2022-5-17 15:25
标题: X射线在芯片检测领域的应用原理分析

  近年来,电动汽车、消费电子、只能家具等行业的的需求迅速扩大。为了满足相应的需求,市场上的半导体产品也随之快速发展,而正品半导体因为价格昂贵、交期长、缺货等因素,导致了假冒芯片、翻新芯片的泛滥,不断有厂商爆出假冒元器件流入正规供应链的消息。在元器件的检测方法中,x-ray检测,就是利用X射线进行的检测。x-ray检测具有准确度高、时效快、较低陈本、非破坏等优势,已成为越来越重要的芯片检测方法。


  x-ray检测基本原理:

  利用X光射线,获取来料的X-ray内部结构照片,与标准件的X-ray内部结构照片来做对比判断,客观依据,可靠性很高,适用大部分芯片。

  示例:

  下图是拥有大多数芯片基本架构的一个X-ray实例,包括:框架、晶粒尺寸、引线引出点位置,引线本身四个基本对比要素。

  

  X-ray检测可用来检查元器件的内部状态,如芯片排布、引线的排布以及引线框架的设计、焊球(引线)等。对复杂结构的元器件,可以调整X光管的角度、电压、电流以及图像的对比度和亮度,获取有效的图像信息,与正规原厂正品进行比较,或与正规原厂元器件的数据表比对,从而鉴别器件的真伪。X-ray检测具有无损、快速、易用、相对低成本的特点,得到了越来越多的电子产品制造商的青睐。独立分销商联盟IDEA 1010A/B、美国汽车工程师协会SAE AS6081等许多知名标准已经规定X-ray检测技术作为假冒电子元器件探测技术。

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作者: 紫翼天葵    时间: 2022-5-28 14:18
有竞争才有进步嘛
作者: 椰风    时间: 2022-6-9 09:29
好好 学习了 确实不错
作者: 国家    时间: 2022-6-23 00:44
有道理。。。
作者: 屈剑    时间: 2022-7-7 11:15
没事我就来看看,哈哈!
作者: 屈剑    时间: 2022-7-20 18:38
不知该说些什么。。。。。。就是谢谢
作者: 萧风丝雨    时间: 2022-8-7 16:37
路过,支持一下啦




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