X光射线做芯片检测 x-ray芯片检测原理

guozhiwei · 发表于 2022-5-16 16:48:16

　　在过去的二十年当中，半导体产业发展迅速，制造工艺不断提高，种类迅速增长，但高速增长的市场下，到处都充斥着假冒伪劣半导体产品。元器件的生产几乎于全自动，这虽然杜绝了因为人工组装可能产生的错误，但是残次品、翻新货、外观造假等手段确可以在外观上以假乱真，导致依赖外观检测，难以完全辨别真假产品，这就需要能进行非破坏式的X-ray检测作为强力的辅助手段。所以，基于X光成像而发展起来的x-ray芯片检测备受青睐。

　　X-ray芯片检测技术原理

　　x-ray检查是近几年才兴起的一种新型测试技术。将需要检测的半导体产品放在检测台上，位于线路板上方有一X-Ray发射管，其发射的X射线穿过线路板后被置于下的探测器(一般为摄象机)接受，由于半导体产品中不同材料对X光射线的吸收、透过率不同而呈黑点产生图像，就可以在不破坏半导体产品的情况下，获取到其内部信息的成像图，有了清晰的内部图像，与标准产品的内部图像一对比，就可以知道检测件的真伪和是否存在结构损坏情况。

　　

　　壹探芯城 x-ray芯片检测

　　X-ray芯片检测具有无损、快速、易用、客观、可靠性高、适用于大部分芯片等特点，成为近年来主要的芯片验真检测手段。独立分销商联盟IDEA 1010A/B、美国汽车工程师协会SAE AS6081等许多知名标准已经规定X-ray检测技术作为假冒电子元器件探测技术。

　　壹探芯城拥有先进X-ray检测设备、专业检测队伍、覆盖98%芯片型号的x-ray图片数据库，为广大企业提供低成本、高效快捷、型号齐全的芯片x-ray图片查询、下载服务，是业内最方便、实用的x-ray信息查询、下载网!芯片验真检测，芯片x-ray数据库对接合作，欢迎咨询!